扩散模型在15样本下合成TEM图像

2026年10月26日，一篇发表于arXiv计算机视觉板块的研究提出基于去噪扩散概率模型（DDPM）的合成TEM图像生成框架，面向数据受限条件下的半导体量测。报道称，该框架采用渐进式分块训练策略，从低分辨率图像块逐步扩展至全图，从而在仅15个样本的极端数据稀缺条件下实现从零训练。在最近邻1%的图像对上，合成DEVICE-TEM图像的MS-SSIM达0.985±0.002，而全集均值为0.587；盲测专家定性评估与结构相似度结果一致。上述条件与指标均针对该研究提出的DDPM框架及其实验设置，报道未说明该方法在其他数据集或更大样本条件下的表现。

AI 根据报道生成 · 1 小时前更新

还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。