DEQ-Det：双证据查询的小样本模拟IC器件检测

2026年11月6日，arXiv Computer Vision 刊出 Zidong Zhao 等作者的论文，提出 DEQ-Det（Dual Evidence Queries for Detection）方法，用于小样本模拟 IC 器件检测。该方法从同一批支持图像中同时构建前景与背景参考，无需额外标注，用目标形态和周边版图模式共同指导查询选择与区域验证。在五个留出器件类别、三个随机种子上，10-shot 和 30-shot 的 macro AP50 分别为 39.41 和 53.03，比最强基线高 3.97 和 9.71 分。匹配的 30-shot 消融显示，RoI 背景证据在召回率相当的情况下降低了汇总误报。上述数字与结论均出自该论文自述。

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