arXiv Computer Vision· Zidong Zhao, Rong Huang, Chengxing Fan, Jie Hu, Malik Haris, Ghazal A. Fahmy, Morteza Mousazadeh, Guoqiang Zhang·· 2 天前AI 评分22
DEQ-Det：用双证据查询实现少样本模拟 IC 器件检测
DEQ-Det: Dual Evidence Queries for Few-Shot Analog IC Device Detection
AI 导读
DEQ-Det 从同一批支持图像中同时构建前景与背景参考，无需额外标注，用目标形态和周边版图模式共同指导查询选择与区域验证。在五个留出器件类别、三个随机种子上，10-shot 和 30-shot 的 macro AP50 分别为 39.41 和 53.03，比最强基线高 3.97 和 9.71 分。匹配的 30-shot 消融显示，RoI 背景证据在召回率相当的情况下降低了汇总误报。
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