跳到正文
arXiv Artificial Intelligence· Yuanting Fan, Jun Liu, Bin-Bin Gao, Xiaochen Chen, Yuhuan Lin, Zhewei Dai, Jiawei Zhan, Chengjie Wang·· 17 小时前AI 评分34

UniDG:通过缺陷上下文编辑实现统一缺陷生成

UniDG: Unified Defect Generation via Defect-Context Editing

AI 导读

UniDG 将缺陷合成建模为“缺陷上下文编辑”,用自适应裁剪提取参考缺陷上下文,并以结构化双联画格式融合多模态条件,实现跨对象、缺陷类型与领域的统一缺陷生成。团队同时构建了 300K 规模的 UDG 数据集,包含正常-异常-掩码-描述四元组。

来源:arXiv Artificial Intelligence · arxiv.org