芝加哥大学团队开发新计算方法，模拟自旋缺陷内部转换过程

芝加哥大学普利兹克分子工程学院的研究团队开发出一种计算方法，可完整模拟自旋缺陷与光相互作用的光学循环，包括此前难以准确建模的内部转换过程。该方法已集成到开源GPU模拟程序WEST中，在碳化硅双空位缺陷的计算中发现内部转换对三重态寿命的影响远大于此前模型估计，解释了理论与实验长期不符的问题。