arXiv Computer Vision· Abhay Kumar Das, Rajesh Gangireddy, Ashwin Vaidya, Samet Akcay·· 2 天前AI 评分38
FLASH：面向工业异常检测的“一次生成、多次合成”合成异常生成框架
FLASH: A "Generate Once, Synthesize Many" Framework for Synthetic Anomaly Generation in Industrial Anomaly Detection
AI 导读
FLASH 用“一次生成、多次合成”框架把缺陷生成与异常合成解耦：仅凭正常图像，借助 VLM 引导和图像生成模型产出少量缺陷图，再提取、校验并存入可复用缺陷补丁库。
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